ハシモト オサム   HASHIMOTO Osamu
  橋本 修
   所属   青山学院大学  理工学部 電気電子工学科
   職種   教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2002/09
形態種別 学術雑誌
査読 査読有り
標題 「テストLSIを用いたプリント板からの電磁放射低減に関する検討」
執筆形態 共同
掲載誌名 『エレクトロニクス実装学会誌』(エレクトロニクス実装学会)
掲載区分国内
巻・号・頁 559-567頁
著者・共著者 芳賀 知, 中野 健, 須藤俊夫, *橋本 修
概要 LSIの動作モードを外部から設定可能なテストLSIを開発し,このLSIと放射測定用テストプリント板を用いて,動作モードと放射との関連,放射の支配的要因の推測,さらに放射低減について検討した。その結果,バッファ出力が外部トレースを駆動する動作モードでの放射が大きいこと,さらに近傍磁界分布の測定からLSI搭載部において大きな高周波電流のループが形成されていることがわかった。そして,このループがプリント板の電源・グラウンド部を励振し,高周波電流がプリント板上に広く分布することにより,放射が発生していることがわかった。そこで,効果的な放射抑制のためにLSIパッケージ部にフェライトを装荷する対策,またLSI銅版で搭載部を覆う対策を実験し,LSI搭載部での対策が有効であることを確認した。