ハシモト オサム   HASHIMOTO Osamu
  橋本 修
   所属   青山学院大学  理工学部 電気電子工学科
   職種   教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2001/05
形態種別 学術雑誌
査読 査読有り
標題 「X帯における液晶材料の複素誘電率測定法と測定結果」
執筆形態 共同
掲載誌名 『電子情報通信学会和文論文誌』(電子情報通信学会)
掲載区分国内
巻・号・頁 J84-B, 5,945-947頁
著者・共著者 鍵和田啓介, *橋本 修, 平田圭一, 都甲康夫
概要 マイクロ波帯における複素誘電率の測定法として知られている方形導波管定在波法を応用し、液晶材料の複素誘電率の簡易測定法と、その測定結果を示した。この測定はテフロンで構成した箱に液体状の測定物を入れ、それを方形導波管内に挿入して測定するものである。テフロン箱の誤差についてはFDTD法を用いて補正している。