|
シゲサト ユウゾウ
SHIGESATO Yuuzou
重里 有三 所属 青山学院大学 理工学部 化学・生命科学科 職種 教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2016/02 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Crystallization behavior of amorphous indium-gallium-zinc oxide films and its effect on thin-film transistor performance |
| 執筆形態 | 共同 |
| 掲載誌名 | Japanese Journal of Applied Physics |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 55(3),pp.035004 1-035004 5 |
| 著者・共著者 | A. Suko, J. Jia, S. Nakamura, E. Kawashima, F. Utsuno, K. Yano, Y. Shigesato |