|
イシカワ ヤスアキ
ISHIKAWA Yasuaki
石河 泰明 所属 青山学院大学 理工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2016/03 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Effect of fluorine in a gate insulator on the reliability of indium-gallium-zinc oxide thin-film transistors |
| 執筆形態 | 共同 |
| 掲載誌名 | ECS J. Solid State Sci. Technol. |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 5(5),pp.N17-N21 |
| 著者・共著者 | Haruka Yamazaki, Yasuaki Ishikawa, Mami N. Fujii, Juan P. Bermundo, Eiji Takahashi, Yasunori Andoh, and Yukiharu Uraoka |
| DOI | 10.1149/2.0241605jss |