イシカワ ヤスアキ   ISHIKAWA Yasuaki
  石河 泰明
   所属   青山学院大学  理工学部 電気電子工学科
   職種   准教授
言語種別 英語
発行・発表の年月 2019/05
形態種別 学術雑誌
査読 査読有り
招待 招待あり
標題 Degradation phenomenon in metal oxide semiconductor thin film transistors and techniques for its reliability evaluation and suppression
執筆形態 共同
掲載誌名 Jpn. J. Appl. Phys.
掲載区分国外
巻・号・頁 58,pp.090502-1-10
著者・共著者 Yukiharu Uraoka, Juan Paolo Bermundo, Mami Fujii, Mutsunori Uenuma, and Yasuaki Ishikawa
DOI 10.7567/1347-4065/ab1604