コウ シンジ
KOH Shinji
黄 晋二 所属 青山学院大学 理工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2003/11 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | Characterization of amorphous-Si/1ML-Ge/Si(001) interface structure by X-ray standing waves |
執筆形態 | 共同 |
掲載誌名 | Japanese Journal of Applied Physics |
掲載区分 | 国内 |
巻・号・頁 | 42,pp.7050-7052 |
著者・共著者 | S. Nakatani, T. Sumitani, A. Nojima, T. Takahashi, K. Hirano, S. Koh, T. Irisawa, and Y. Shiraki |