イシカワ ヤスアキ
ISHIKAWA Yasuaki
石河 泰明 所属 青山学院大学 理工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2013/12 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | The influence of fluorinated silicon nitride gate insulator on positive bias stability toward highly reliable amorphous InGaZnO thin-film transistors |
執筆形態 | 共同 |
掲載誌名 | ECS J. Solid State Sci. Technol. |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 3(2),pp.Q20-Q23 |
著者・共著者 | Haruka Yamazaki, Yasuaki Ishikawa, Mami Fujii, Yoshihiro Ueoka, Masaki Fujiwara, Eiji Takahashi, Yasunori Andoh, and Yukiharu Uraoka |
DOI | 10.1149/2.014402jss |