コウ シンジ
KOH Shinji
黄 晋二 所属 青山学院大学 理工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2004/10 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | Observation of dislocations in strain-relaxed silicon-germanium thin films with flat surfaces grown on ion-implanted silicon substrates |
執筆形態 | 共同 |
掲載誌名 | Material Science in Semiconductor Processing |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 7,pp.289-292 |
著者・共著者 | J. Yamanaka, K. Sawano, K. Nakagawa, K. Suzuki, Y. Ozawa, S. Koh, T. Hattori and Y. Shiraki |