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シゲサト ユウゾウ
SHIGESATO Yuuzou
重里 有三 所属 青山学院大学 理工学部 化学・生命科学科 職種 教授 |
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| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2018/01 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Evolution of Defect Structures and Deep Subgap States during Annealing of Amorphous In-Ga-Zn Oxide for Thin-Film Transistors |
| 執筆形態 | 共同 |
| 掲載誌名 | PHYSICAL REVIEW APPLIED |
| 掲載区分 | 国外 |
| 出版社・発行元 | The American Physical Society (APS) |
| 巻・号・頁 | 9(1),pp.014018 |
| 概要 | Junjun Jia, Ayaka Suko, Yuzo Shigesato, Toshihiro Okajima |